光學投影式三維形貌測量系統（產品）
來源： 發布日期：2017-06-01
Ø 意昂3平台簡介：光學投影式三維形貌測量方法是一種非接觸、高精度🧖、快速獲取被測物三維形貌的方法。基於此方法開發研製而成的測量系統可在1分鐘內獲取測量區域10cm2-400cm2內被測物三維形貌♙，測量分辨率可達到200μm。該系統硬件部分包括小型化條紋投射裝置、高分辨率數字CCD相機和控製電路🛃，自行編寫的軟件擁有儀器控製👩🏼🔧、圖像采集、分析和可視化等功能並嵌套相位解包裹專用算法。便攜式設計使該套系統可方便應用於車間🛎、廠礦等各種測量環境。
Ø 項目來源：自行開發
Ø 技術領域📉：測量測試
Ø 應用範圍：加工製造業中的逆向工程👇🏽、產品檢測❗️，生物醫學中的器官測量與建模和服裝製造業中的虛擬試衣等🥤。
Ø 現狀特點：該系統的測量速度及精度處於國內較為先進的水平且造價低廉🧔♂️，科研和教學領域均可使用。
Ø 技術創新🤷🏽♀️：該系統采用基於時域的相位解包裹算法作為數據處理的核心算法👳🏿🚻，可以大大降低噪聲對結果的影響，提高測量的精度。
Ø 所在階段🕵🏿♀️：樣機
Ø 意昂3平台知識產權📘：獨立知識產權
Ø 意昂3平台轉讓方式➿：合作開發或技術服務
Ø 市場狀況及效益分析：該套系統造價比國外同類試驗設備造價低5-10倍左右，在軍用和民用領域均具有較大的潛在經濟效益和應用空間。
